Diffrattometro RX
Descrizione della tecnica:	Diffrattometria a raggi X con accessori per microdiffrazione. E’ una delle  tecniche  più usate per lo studio delle componenti cristalline in una matrice complessa. Fornisce informazioni qualitative e quantitative.
Applicazioni:	Viene impiegata per studi archeometrici e per la  valutazione dello stato di conservazione di materiali lapidei naturali ed artificiali (malte, ceramiche, ecc), per lo studio composizionale di pigmenti e delle loro fasi di alterazione, per lo studio delle fasi di alterazione dei metalli e delle fasi cristalline nei vetri. Con il sistema per la microdiffrazione è possibile  effettuare analisi puntuali su  sezioni lucide, sezioni sottili e microcampioni  (spot 100 µm).
Principi di base:	Il metodo sfrutta gli effetti dell’interferenza di una radiazione X con il reticolo cristallino. Il reticolo, colpito da una radiazione di lunghezza d’onda λ dello stesso ordine delle distanze dei piani reticolari, diffrange la radiazione secondo un determinato angolo θ. Tale principio è noto come legge di Bragg (nλ=2d senθ). La diffrazione dei raggi X da parte dei vari piani reticolari fornisce una serie di picchi variabili per posizione ed intensità, che costituiscono lo spettro di diffrazione caratteristico della sostanza cristallina analizzata.
Strumentazione:	Diffrattometro X’Pert PRO PANalytical ad anticatodo di rame, dotato di multirivelatore X’ Celeretor e sistema per microdiffrazione (Sede di Firenze).